Międzyinstytutowe Laboratorium Mikroanalizy Minerałów i Substancji Syntetycznych (Pracownia Mikrosondy Elektronowej)

Placówki tworzące Międzyinstytutowe Laboratorium Mikroanalizy Minerałów i Substancji Syntetycznych (Pracownia Mikrosondy Elektronowej):

  • Wydział Geologii, Uniwersytet Warszawski
  • Wydział Nauk o Ziemi UOE
  • Instytut Geologii UAM
  • Instytut Nauk Geologicznych UWr
  • Instytut Nauk Geologicznych PAN
  • Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Pracownia Mikrosondy Elektronowej

Telefon: (+48 22) 55 40 324
Pokój: 2066

Dr Petras Jokubauskas (specjalista badawczo-techniczny)
Telefon: (+48 22) 55 40 323
Pokój: 2088
E-mail: Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie w przeglądarce obsługi JavaScript.

 

Dr Beata Marciniak-Maliszewska (specjalista badawczo-techniczny)
Telefon: (+48 22) 55 40 328
Pokój: 2037
E-mail: Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie w przeglądarce obsługi JavaScript.

Analizy chemiczne w mikroobszarze:

OPIS:
Oznaczanie składu chemicznego ciał stałych na podstawie badań skrajnie małych próbek metodą mikroanalizy rentgenowskiej. Polega ona na pomiarze charakterystycznego promieniowania X emitowanego przez pierwiastki wzbudzone wiązką elektronów skupioną na powierzchni próbki w polu o średnicy [lt] 1µm. Analizowana masa próbki jest rzędu 10-11 g. Metoda jest nieniszcząca i bardzo szybka. Materiał badany jest jednocześnie obserwowany w mikroskopie świetlnym i elektronowym, także z wykorzystaniem katodoluminescencji.

SŁOWA KLUCZOWE:
mikroanaliza rentgenowska, pierwiastki lekkie, pierwiastki ziem rzadkich

INNOWACYJNOŚĆ:
Choć prezentowana metoda analizy jest od dawna stosowana w nauce i praktyce, to atutem naszego laboratorium jest wyposażenie w najnowocześniejszą mikrosondę, o wyjątkowej precyzji - Cameca SX-100. Umożliwia ona oznaczanie pierwiastków od B do U, przy wykrywalności 0,01% i błędzie względnym 1%.
Szczególną jej zaletą jest bardzo wysoka dokładność oznaczeń pierwiastków lekkich (B, N, C, O, F) oraz ziem rzadkich (REE), a także możliwość analizowania materiałów wielowarstwowych o grubości warstw rzędu nanometrów. Aparat pozwala ponadto na radykalną redukcję kosztów pojedynczego badania dzięki doskonałej stabilności warunków pomiarowych, eliminującej konieczność powtarzania czasochłonnych pomiarów kontrolnych na wzorcach oraz automatyzacji zadań i bezobsługowej pracy non-stop.

ZASTOSOWANIE:
Jakosciowe i ilościowe oznaczenia składu chemicznego wszelkiego rodzaju ciał stałych na których można uzyskać:

  • gładkie powierzchnie;
  • analizy mikroniejednorodności - wrostków i wydzieleń;
  • analizy materiałów warstwowych (do 15 warstw);
  • analizy punktowe - pełne lub realizowane w specjalnym reżimie, analizy śladów ([gt] 10 ppm);
  • badania liniowego i powierzchniowego rozkładu zawartości pierwiastków (profile i mapy o rozdzielczości 2048 x 1536 pikseli).

FORMA WSPÓŁPRACY:

  • usługi analityczne;
  • wspólne opracowania.